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专利名称: 一种温度、空间可调节的元件性能测试箱
专利类别:
申请号: ZL202023281374.5
申请日期: 2020-10-19
专利号:
第一发明人: 刘伟
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注: