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专利名称: 一种低温下的微波器件S参数测量装置和测量方法
专利类别: 发明
申请号: CN202010944513.3
申请日期: 2020/09/10
专利号:
第一发明人: 金骏达
其它发明人: 史生才
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注: